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北京科檢檢測(cè)技術(shù)集團(tuán)有限公司
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項(xiàng)目介紹HAST老化測(cè)試廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命測(cè)試。加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和
4006863985 立即咨詢HAST老化測(cè)試廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命測(cè)試。加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。 為了提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),加快試驗(yàn)過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間,因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間。 HAST高加速老化測(cè)試是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度,濕度,壓力,的各種條件來(lái)完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到模具/裝置上。HAST高加速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn),特別是在半導(dǎo)體,太陽(yáng)能和其他工業(yè)中,作為標(biāo)準(zhǔn)溫度濕度偏差測(cè)試(85C/85%RH—1000小時(shí))的快速有效替代方案。 1.低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn) 2.高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn) 3.快速熱循環(huán)試驗(yàn) 4.振動(dòng)步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn) 5.綜合應(yīng)力試驗(yàn) 6.工作應(yīng)力測(cè)試 IEC 60068-2-66:1994 Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat,steady state(unsaturated pressurized vapour) GB/T 2423.40-2013 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱項(xiàng)目介紹
HAST老化測(cè)試目的
試驗(yàn)應(yīng)用范圍
HAST高加速老化測(cè)試的試驗(yàn)類別
參考標(biāo)準(zhǔn)
生物相容性可以分為生物學(xué)反應(yīng)和材料反應(yīng)兩部分,其中生物反應(yīng)包括血液反應(yīng),免疫反應(yīng)和組織反應(yīng);材料反應(yīng)主要表現(xiàn)在材料物理和化學(xué)性質(zhì)的改變。生物相容性主要決定于材料···...
毒理試驗(yàn)是通過(guò)給實(shí)驗(yàn)動(dòng)物進(jìn)行不同途徑、不同期限的染毒檢測(cè)各種毒性終點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)。通過(guò)動(dòng)物實(shí)驗(yàn)和對(duì)動(dòng)物的觀察,闡明某一化學(xué)物的毒性及其潛在危害,其目的是確定無(wú)害作用水···...
項(xiàng)目介紹HAST老化測(cè)試廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命測(cè)試。加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)···...
項(xiàng)目介紹使用雙工位微跌落試驗(yàn)可以對(duì)微小電子產(chǎn)品進(jìn)行部分可靠性功能測(cè)試,微跌落試驗(yàn)采用氣動(dòng)治具夾持測(cè)試產(chǎn)品,電機(jī)驅(qū)動(dòng)上升到設(shè)定的跌落高度,模擬產(chǎn)品往復(fù)跌落測(cè)試。&···...