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北京科檢檢測(cè)技術(shù)集團(tuán)有限公司
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型號(hào):NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge 測(cè)試項(xiàng)目:a. 粉末/薄膜/塊體/纖維樣品表面三維形貌拍攝和粗糙度測(cè)定b. 納米片厚度測(cè)定c. 生物樣品構(gòu)型更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。樣品要求:1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊體、薄膜樣品。2. 粉末樣品:顆粒一般不超過(guò)5微米,提供20mg,若尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理。3. 薄
4006863985 立即咨詢型號(hào):NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge a. 粉末/薄膜/塊體/纖維樣品表面三維形貌拍攝和粗糙度測(cè)定 b. 納米片厚度測(cè)定 c. 生物樣品構(gòu)型 更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理。 1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊體、薄膜樣品。 2. 粉末樣品:顆粒一般不超過(guò)5微米,提供20mg,若尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理。 3. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長(zhǎng)寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過(guò)5um,一定要標(biāo)明測(cè)試面!若尺寸過(guò)大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理。 因?yàn)槌叽邕^(guò)大,會(huì)碰到儀器探針針尖,針尖易磨鈍以及受污染,且磨損無(wú)法修復(fù),污染則清洗困難。 AFM拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝,同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致,因?yàn)樵恿︼@微鏡成像范圍較小,與拍攝樣品表面是否均勻息息相關(guān)。 測(cè)試原始文件格式FLT格式或MDT格式可分別用Nanoscope analysis 和Nova 1138軟件打開(kāi)。測(cè)試項(xiàng)目:
樣品要求:
常見(jiàn)問(wèn)題及回答:
1、 為什么AFM測(cè)試樣品顆粒或者表面粗糙度不能過(guò)大?
2、 AFM拍攝不到自己想要的效果,表面形貌或粗糙度與自己預(yù)期不符合?
結(jié)果展示:
型號(hào):NT-MDT Prima; Bruker Dimension Edge 測(cè)試項(xiàng)目:a. 粉末/薄膜/塊體/纖維樣品表面三維形貌拍攝和粗糙度測(cè)定b. 納米片···...
型號(hào):S4800; SIGMA HD ; Nova450; FEI Verios 460; JSM-7800F; JSM-7001F 測(cè)試···...
型號(hào):TF20,Jeol 2100F 測(cè)試項(xiàng)目:可測(cè)項(xiàng)目:形貌、點(diǎn)掃、線掃、mapping、衍射備注:非磁、弱磁、強(qiáng)磁樣品均可拍攝 樣品要求:1. 樣···...
介紹球差校正透射電子顯微鏡是一種用于生物學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、農(nóng)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。以場(chǎng)發(fā)射電子發(fā)射體發(fā)射電子,通過(guò)電磁透鏡控制電子束匯集成很小的束斑并照射樣品,同時(shí)···...