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北京科檢檢測技術(shù)集團有限公司
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介紹霍爾效應測試儀,主要用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此霍爾效應測試儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必備的工具。可測試材料1.半導體材料:SiGe, S1
4006863985 立即咨詢霍爾效應測試儀,主要用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。而這些參數(shù)是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的,因此霍爾效應測試 儀是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性必備的工具。 1.半導體材料:SiGe, S1C, InAs, InGaAs, InP, A1GaAs, HgCdTe和鐵氧體材料等等。 2.低阻抗材料:金屬、透明氧化物、弱磁性半導體材料、TMR材料等。 3.高阻抗材料:半絕緣的GaAs, GaN, CdTe等。介紹
可測試材料
工業(yè)CT(industrial computerized tomography)是指應用于工業(yè)中的核成像技術(shù)。其基本原理是依據(jù)輻射在被檢測物體中的減弱和···...
型號:NETZSCH LFA 457 MicroFlash/NETZSCH LFA 467 測試項目:導熱系數(shù)=熱擴散*比熱*密度a. LFA 427···...
介紹熱變形維卡維度測定儀,主要用于塑料、硬橡膠、尼龍、電絕緣材料、長纖維增強復合材料、高強度熱固性層壓材料等非金屬材料的熱變形溫度及維卡軟化點溫度的測定。熱變形···...